供应美国标准局NIST微量分析标准物质

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SRM 480  Tungsten 20 % – Molybdenum Alloy Electron Microprobe Standard        钨钼合金电子探针标准         disk

SRM 481  Gold-Silver Wires for Microprobe Analysis      微探针分析用金银丝     set (6)

SRM 482  Gold-Copper Wires for Microprobe Analysis   微探针分析用金铜线     set (6)

SRM 2061         TiAl(NbW) Alloy for Microanalysis   微量分析用TiAl(NbW)合金      cube

SRM 2066         K-411 Glass Microspheres       K-411玻璃微球       50 mg 美国标准局NIST微量分析标准物质

SRM 2841         Semiconductor Thin Film: AlxGa1-xAs Epitaxial Layers (Al mole fraction x near 0.20)    半导体薄膜:AlxGa1-xAs外延层(Al摩尔分数) 十 接近0.20)   disk

SRM 2842         Semiconductor Thin Film: AlxGa1-xAs Epitaxial Layers (Al mole fraction x near 0.30)    半导体薄膜:AlxGa1-xAs外延层(Al摩尔分数x接近0.30) disk

SRM 8095         Si1-xGex Films on Si 硅基Si1-xGex薄膜 2 wafers,1 each level

SRM 2483         Single-Wall Carbon Nanotubes (Raw Soot)      单壁碳纳米管(生烟灰)     250 mg