5606-a/Single-Crystal Silicon for Positron Defect Measurements

分类： ,
名称

Single-Crystal Silicon for Positron Defect Measurements
英文名称

Single-Crystal Silicon for Positron Defect Measurements
中文名称

正电子缺陷测量用单晶硅标准物质
CAS号

NA
品牌

日本标准局NMIJ
货号

5606-a
规格

1EA
储存温度

-20摄氏度
货期

部分现货，详情请询
用途

仅供实验室使用
备注

One year from the date of shipment

相关产品